Periodo de publicación recogido
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Rosario Di Lorenzo, P. Scafidi, Antonino Pisciotta, T. Santangelo, Carlo Nicolosi Asmundo
Rivista di viticoltura e di enologia, ISSN 0370-7865, Año nº 61, Nº 2-4, 2008 (Ejemplar dedicado a: Atti del II Convegno: Le Malvasie del Bacino del Mediterraneo), págs. 361-367
Advanced backside failure analysis in 65 nm CMOS technology.
S. Bianic, S. Allemand, G. Kerrosa, P. Scafidi, D. Renard
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1550-1554
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