Periodo de publicación recogido
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El proyecto DRAV: desinfección y reutilización de las aguas residuales en la Comunidad Valenciana
Montserrat Folch Sánchez, Miquel Salgot de Marçay, L. Alcalde, Josefina C. Tapias Pantebre, F. Martinez, Ignacio Bernácer Bonora
Tecnología del agua, ISSN 0211-8173, Año nº 31, Nº 333, 2011, págs. 50-56
G. Néau, F. Martinez, M. Valenza, J.C. Vildeuil, E. Vincent, F. Boeuf, F. Payet, K. Rochereau
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 567-572
C. Leyris, F. Martinez, M. Valenza, A. Hoffmann, J.C. Vildeuil
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 573-576
N-MOSFET oxide trap characterization induced by nitridation process using RTS noise analysis.
C. Leyris, F. Martinez, A. Hoffman, M. Valenza, J.C. Vildeuil
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 41-45
Acceso restringido a calificaciones de alumnos a través de Internet
Víctor Manuel Rivas Santos, J.J. Aguilera, José Ramón Balsas Almagro, F. Martinez
Simposio Español de Informática Distribuida: libro de actas. Ourense 25-27 de septiembre de 2000 / Senén Barro (ed. lit.), José María Busta Rodríguez (ed. lit.), Juan Manuel Corchado Rodríguez (ed. lit.), Pedro Cuesta Morales (ed. lit.), 2000, ISBN 84-8158-163-1, págs. 163-170
F. Martinez, Manuel Capel Tuñón, Víctor Manuel Rivas Santos, José Ramón Balsas Almagro
Simposio Español de Informática Distribuida: libro de actas. Ourense 25-27 de septiembre de 2000 / Senén Barro (ed. lit.), José María Busta Rodríguez (ed. lit.), Juan Manuel Corchado Rodríguez (ed. lit.), Pedro Cuesta Morales (ed. lit.), 2000, ISBN 84-8158-163-1, págs. 513-518
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