Random telegraph signal: A sensitive and nondestructive tool for gate oxide single trap characterization.

• Autores: C. Leyris, F. Martinez, M. Valenza, A. Hoffmann, J.C. Vildeuil
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 573-576
• Idioma: inglés
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