Periodo de publicación recogido
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Single- and Double-Output Embedded Checker Architectures for Systematic Unordered Codesâ¿¿
S. Tarnick
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 4, 2005, págs. 391-404
Design of Embedded Self-Testing Checkers for t-UED and BUED Codes
S. Tarnick
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 5, 2004, págs. 465-477
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