Periodo de publicación recogido
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Erosion defect formation in Ni-gate AlGaN/GaN high electron mobility transistors
P.G. Whiting, M.R. Holzworth, A.G. Lind, S. J. Pearton, K.S. Jones, L. Liu, T.S. Kang, F. Ren, Y. Xin
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 70, 2017, págs. 32-40
La~3Ga~5SiQ~1~4 single-crystal Q switch used as an electro-optic device
W. Jiyang, Y. Xin, Z. Shaojun
Applied optics: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0003-6935, Nº. 36, 2003, págs. 7188-7190
Recent important advances in materials science
C.J. Humphreys, G.A. Botton, P.D. Brown, J. Etheridge, A.F. Moodies, M.A. Peters, Y. Xin
Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio, ISSN 0366-3175, Vol. 36, Nº. 2-3, 1997, págs. 100-103
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