Periodo de publicación recogido
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Erosion defect formation in Ni-gate AlGaN/GaN high electron mobility transistors
P.G. Whiting, M.R. Holzworth, A.G. Lind, S. J. Pearton, K.S. Jones, L. Liu, T.S. Kang, F. Ren, Y. Xin
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 70, 2017, págs. 32-40
A Novel Packet Dropping Mechanism for Active Queue Management
F. Ren, C. R. Lin
IEICE transactions on communications, ISSN 0916-8516, Vol. 88, Nº 4, 2005, pág. 1432
Speed up the Responsiveness of Active Queue Management System
F. Ren, C. R. Lin
IEICE transactions on communications, ISSN 0916-8516, Vol. 86, Nº 2, 2003, pág. 630
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