Periodo de publicación recogido
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Improvement of reliability for high-ohmic Cr–Si thin film resistors in a heat and humid environment: Removing moisture source by electrocatalytic decomposition of water
X. Y. Wang, Q. Cheng, X.P. Ma, H. Zhang, M.X. Li, T.N. Chen, G.P. Zhang, J.Q. Shao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 60, 2016, págs. 101-108
X. Y. Wang, H. Zhang, X.P. Ma, Q. Cheng, C.G. Li, M.X. Li, T.N. Chen, G.P. Zhang, J.Q. Shao
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 57, 2016, págs. 79-85
A voltage calibration technique of electro-optic probing for characterization internal to IC¿s chip.
H. Liu, A. Hou, H. Zhang, D. Zhang, M. Yi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 82-87
In situ speciation measurements of trace components in natural waters using thin-film gels
W. Davison, H. Zhang
Nature: International weekly journal of science, ISSN 0028-0836, Vol. 367, Nº 6463, 1994, págs. 546-548
The NRT2 family of high-affinity nitrate transporters
M. Hansen, B.G. Forde, G. Leggewie, A. J. Jennings, H. Zhang
Avances en el metabolismo del nitrógeno: bioquímica, fisiología y biología molecular / coord. por Francisco Javier Florencio Bellido, Francisco Miguel Cánovas Ramos, 2000, ISBN 84-7496-842-9, págs. 97-102
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