A voltage calibration technique of electro-optic probing for characterization internal to IC¿s chip.

• Autores: H. Liu, A. Hou, H. Zhang, D. Zhang, M. Yi
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 82-87
• Idioma: inglés
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