Periodo de publicación recogido
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Modeling and analysis of single-event transient sensitivity of a 65 nm clock tree
Yuanqing Li, Li Chen, Issam Nofal, Mo Chen, Haibin Wang, Rui Liu, Qingyu Chen, Miloš Krstić, Shuting Shi, Gang Guo, Sang H. Baeg, ShiJie Wen, Richard Wong
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 24-32
Study of proton radiation effect to row hammer fault in DDR4 SDRAMs
Chulseung Lim, Kyungbae Park, Geunyong Bak, Donghyuk Yun, Myungsang Park, Sanghyeon Baeg, ShiJie Wen, Richard Wong
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 80, 2018, págs. 85-90
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