Periodo de publicación recogido
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Modeling and analysis of single-event transient sensitivity of a 65 nm clock tree
Yuanqing Li, Li Chen, Issam Nofal, Mo Chen, Haibin Wang, Rui Liu, Qingyu Chen, Miloš Krstić, Shuting Shi, Gang Guo, Sang H. Baeg, ShiJie Wen, Richard Wong
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 24-32
Study of the operation and SET robustness of a CMOS pulse stretching circuit
Marko Andjelkovic, Miloš Krstić, Rolf Kraemer
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 100-112
Miloš Krstić, Stefan Weidling, Vladimir Petrović, Egor S. Sogomonyan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 212-220
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