InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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Robust DC and efficient time-domain fast fault simulation
Bratislav Tasic, Jos J. Dohmen, E.J.W. ter Maten, Theo G.J. Beelen, Wil Schilders, Alex H. de Vries, Maikel van Beurden
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 33, Nº 4 (Special Issue: SCEE 2012), 2014, págs. 1161-1174
Nanoelectronic Coupled Problem Solutions: Uncertainty Quantification of RFIC Interference
Piotr Putek, Rick Janssen, E.J.W. ter Maten, Roland Pulch, Bratislav Tasic, Michael Günther
Progress in industrial mathematics at ECMI 2016 / Peregrina Quintela Estevez (ed. lit.), Patricia Barral Rodiño (ed. lit.), Mª Dolores Gómez Pedreira (ed. lit.), Francisco Pena Brage (ed. lit.), Jerónimo Rodríguez García (ed. lit.), Pilar Salgado Rodríguez (ed. lit.), Miguel Ernesto Vázquez Méndez (ed. lit.), 2017, ISBN 978-3-319-63081-6, págs. 271-280
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