InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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Piotr Putek, Piotr Paplicki, Ryszard Palka
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 33, Nº 3 (Special Issue: OIPE 2012), 2014, págs. 711-728
Space mapping methodology for defect recognition in eddy current testing – type NDT
Piotr Putek, Guillaume Crevecoeur, Marián Slodicka, R. Van Keer, Ben Van de Wiele, Luc Dupré
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 31, Nº 3 (Special Issue: Problems in Electromagnetism), 2012, págs. 881-894
Identification of Probabilistic Input Data for a Glue-Die- Package Problem
Roland Pulch, Piotr Putek, Herbert De Gersem, Renaud Gillon
Progress in industrial mathematics at ECMI 2016 / Peregrina Quintela Estevez (ed. lit.), Patricia Barral Rodiño (ed. lit.), Mª Dolores Gómez Pedreira (ed. lit.), Francisco Pena Brage (ed. lit.), Jerónimo Rodríguez García (ed. lit.), Pilar Salgado Rodríguez (ed. lit.), Miguel Ernesto Vázquez Méndez (ed. lit.), 2017, ISBN 978-3-319-63081-6, págs. 255-262
Nanoelectronic Coupled Problem Solutions: Uncertainty Quantification of RFIC Interference
Piotr Putek, Rick Janssen, E.J.W. ter Maten, Roland Pulch, Bratislav Tasic, Michael Günther
Progress in industrial mathematics at ECMI 2016 / Peregrina Quintela Estevez (ed. lit.), Patricia Barral Rodiño (ed. lit.), Mª Dolores Gómez Pedreira (ed. lit.), Francisco Pena Brage (ed. lit.), Jerónimo Rodríguez García (ed. lit.), Pilar Salgado Rodríguez (ed. lit.), Miguel Ernesto Vázquez Méndez (ed. lit.), 2017, ISBN 978-3-319-63081-6, págs. 271-280
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