Nanoelectronic Coupled Problem Solutions: Uncertainty Quantification of RFIC Interference

• Autores: Piotr Putek, Rick Janssen, E.J.W. ter Maten, Roland Pulch, Bratislav Tasic, Michael Günther
• Localización: Progress in industrial mathematics at ECMI 2016 / Peregrina Quintela Estevez (ed. lit.), Patricia Barral Rodiño (ed. lit.), Mª Dolores Gómez Pedreira (ed. lit.), Francisco Pena Brage (ed. lit.), Jerónimo Rodríguez García (ed. lit.), Pilar Salgado Rodríguez (ed. lit.), Miguel Ernesto Vázquez Méndez (ed. lit.), 2017, ISBN 978-3-319-63081-6, págs. 271-280
• Idioma: inglés
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