Periodo de publicación recogido
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Battery remaining useful life prediction at different discharge rates
Dong Wang, Fangfang Yang, Yang Zhao, Kwok-Leung Tsui
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 212-219
Dong Wang, Fangfang Yang, Yang Zhao, Kwok-Leung Tsui
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 1-8
Prognostics of Li(NiMnCo)O2-based lithium-ion batteries using a novel battery degradation model
Fangfang Yang, Dong Wang, Yinjiao Xing, Kwok-Leung Tsui
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 70, 2017, págs. 70-78
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