Periodo de publicación recogido
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Vincenzo d'Alessandro, Antonio Pio Catalano, Alessandro Magnani, Lorenzo Codecasa, Niccolò Rinaldi, Brian Moser, P. J. Zampardi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 233-242
Determination of safe reliability region over temperature and current density for through wafer vias
C.S. Whitman, Michael G. Meeder, P. J. Zampardi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 68, 2017, págs. 5-12
K. Nellis, P. J. Zampardi, H. Shin, H. Ju, M. F. Chang
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 87, Nº 9, 2004, pág. 1643
HBT Collector Characterization by the Spectral Photocurrent Technique
R. Welser, N. Pan, F. Schuermeyer, P. J. Zampardi, S. Fitzsimmons
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 10, 2001, págs. 1383-1388
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