Periodo de publicación recogido
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A 25 kV ESD Proof LDMOSFET with a Turn-on Discharge MOSFET
S. Fujino, I. Shirakawa, K. Kawamoto, K. Kohno, Y. Higuchi
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 6, 2001, págs. 823-831
A 200V CMOS SOI IC with Field-Plate Trench Isolation for EL Displays
S. Fujino, I. Shirakawa, K. Kawamoto, H. Yamaguchi, H. Himi
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº 2, 2001, págs. 260-266
200 V Rating CMOS Transistor Structure with Intrinsic SOI Substrate
K. Kawamoto, H. Yamaguchi, S. Akita, H. Himi
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 12, 2000, págs. 1961-1967
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