Periodo de publicación recogido
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Gate-Last MISFET Structures and Process for Characterization of High-k and Metal Gate MISFETs
Y. Akasaka, K. Hayashi, T. Matsuki, K. Torii, T. Maeda
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 5, 2005, pág. 804
Analysis of Adsorbing Molecules on Pt Surface Using Electrochemical Impedance Spectroscopy
W. Futagami, S. W. Lee, K. Toko, K. Hayashi, K. Hayama, K. Masunaga
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 87, Nº 12, 2004, pág. 2087
Discrimination of D-Amino Acids from L-Amino Acids Using Membrane Impedance Change
H. Chibvongodze, K. Hayashi, K. Toko
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 83, Nº 7, 2000, págs. 1028-1034
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