K. Hosogi
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
Corrosion-induced degradation of GaAs PHEMTs under operation in high humidity conditions.
T. Hisaka, H. Sasaki, Y. Nogami, K. Hosogi, N. Yoshida, A.A. Villanueva, J.A. Del Alamo, S. Hasegawa, H. Asahi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1515-1519
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