Corrosion-induced degradation of GaAs PHEMTs under operation in high humidity conditions.

• Autores: T. Hisaka, H. Sasaki, Y. Nogami, K. Hosogi, N. Yoshida, A.A. Villanueva, J.A. Del Alamo, S. Hasegawa, H. Asahi
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 12, 2009, págs. 1515-1519
• Idioma: inglés
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