Periodo de publicación recogido
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Habib Ammari, Pol Grasland-Mongrain, Pierre Millien, Laurent Seppecher, Jin Keun Seo
Journal des mathématiques pures et appliqués, ISSN 0021-7824, Vol. 103, Nº. 6, 2015, págs. 1390-1409
Projective Electrical Impedance Reconstruction with Two Measurements
Munkh-Erdene Ts, Eunjung Lee, Jin Keun Seo, Bastian Harrach, Sungwhan Kim
Siam journal on applied mathematics, ISSN 0036-1399, Vol. 73, Nº 4, 2013, págs. 1659-1675
Magnetic Resonance Electrical Impedance Tomography (MREIT)
Jin Keun Seo, Eung Je Woo
SIAM Review, ISSN 0036-1445, Vol. 53, Nº. 1, 2011, págs. 40-68
Detecting Inclusions in Electrical Impedance Tomography Without Reference Measurements
Bastian Harrach, Jin Keun Seo
Siam journal on applied mathematics, ISSN 0036-1399, Vol. 69, Nº 6, 2009, págs. 1662-1681
A Nondestructive Evaluation Method for Concrete Voids: Frequency Differential Electrical Impedance Scanning
Sungwhan Kim, Jin Keun Seo, Taeyoung Ha
Siam journal on applied mathematics, ISSN 0036-1399, Vol. 69, Nº 6, 2009, págs. 1759-1771
MultiFrequency Trans-Admittance Scanner: Mathematical Framework and Feasibility
Sungwhan Kim, Jeehyun Lee, Jin Keun Seo, Eung Je Woo, Habib Zribi
Siam journal on applied mathematics, ISSN 0036-1399, Vol. 69, Nº 1, 2008, págs. 22-36
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