Eung Je Woo
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
Magnetic Resonance Electrical Impedance Tomography (MREIT)
Jin Keun Seo, Eung Je Woo
SIAM Review, ISSN 0036-1445, Vol. 53, Nº. 1, 2011, págs. 40-68
MultiFrequency Trans-Admittance Scanner: Mathematical Framework and Feasibility
Sungwhan Kim, Jeehyun Lee, Jin Keun Seo, Eung Je Woo, Habib Zribi
Siam journal on applied mathematics, ISSN 0036-1399, Vol. 69, Nº 1, 2008, págs. 22-36
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