Periodo de publicación recogido
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Tolerance evolutionary model and algorithm in product growth design
B. Yang, C. Gao, H. Li, X. Wang
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 65, Nº. 1-4, 2013, págs. 9-25
Liange Zheng, B. Wang, B. Feng, C. Gao, J. Yian
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 56, Nº. 5-8, 2011, págs. 421-428
Reliability analysis of a simple repairable system
L. N. Guo, H. B. Xu, C. Gao, G. T. Zhu
Anziam journal: The Australian & New Zealand industrial and applied mahtematics journal, ISSN 1446-1811, Vol. 52, Nº 2, 2010, págs. 203-217
Two-stage hot-carrier degradation behavior of 0.18 µm 18 V n-type DEMOS and its recovery effect.
C. Gao, J. Wang, L. Wang, Andrew Yap, H. Li
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 1, 2009, págs. 8-12
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