Periodo de publicación recogido
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Adaptive neural control of high-order uncertain nonaffine systems: A transformation to affine systems approach
W. Meng, Q. Yang, S. Jagannathan, Y. Sun
Automatica: A journal of IFAC the International Federation of Automatic Control, ISSN 0005-1098, Vol. 50, Nº. 5, 2014, págs. 1473-1480
Variation risk analysis: MEMS fabrication tolerance for a micro CMM probe.
Y. Sun, C.R. Fowkes, N. Gindy, R.K. Leach
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 47, Nº. 9-12, 2010, págs. 1113-1120
Digital image correlation for solder joint fatigue reliability in microelectronics packages.
Y. Sun, J.H.L. Pang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 2, 2008, págs. 310-318
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