Variation risk analysis: MEMS fabrication tolerance for a micro CMM probe.

• Autores: Y. Sun, C.R. Fowkes, N. Gindy, R.K. Leach
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 47, Nº. 9-12, 2010, págs. 1113-1120
• Idioma: inglés
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