Periodo de publicación recogido
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J.B. Sauveplane, E. Scheid, A. Deram
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 5, 2009, págs. 499-505
3D electro-thermal investigations for reliability of ultra low ON state resistance power MOSFET.
J.B. Sauveplane, P. Tounsi, E. Scheid, A. Deram
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1464-1467
Characterization and modelling of ageing failures on power MOSFET devices.
B. Khong, M. Legros, P. Tounsi, PH. Dupuy, X. Chauffleur, C. Levade, G. Vanderschaeve, E. Scheid
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1735-1740
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