C. Levade

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• Artículos de revistas

  • Characterization of ageing failures on power MOSFET devices by electron and ion microscopies.

    D. Martineau, T. Mazeaud, M. Legros, PH. Dupuy, C. Levade, G. Vanderschaeve

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1330-1333

    

  • Characterization and modelling of ageing failures on power MOSFET devices.

    B. Khong, M. Legros, P. Tounsi, PH. Dupuy, X. Chauffleur, C. Levade, G. Vanderschaeve, E. Scheid

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1735-1740

    

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