D. Martineau
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
Characterization of ageing failures on power MOSFET devices by electron and ion microscopies.
D. Martineau, T. Mazeaud, M. Legros, PH. Dupuy, C. Levade, G. Vanderschaeve
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1330-1333
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