Periodo de publicación recogido
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A. Srivastava, P. Sarkar, C.K. Sarkar
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 4, 2009, págs. 365-370
Study on the performance of sub 100 nm LACLATI MOSFETs for digital application.
P. Sarkar, A. Mallik, C.K. Sarkar
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 4, 2009, págs. 392-396
Performance comparison of channel engineered deep sub-micrometer pseudo SOI n-MOSFETs.
P. Sarkar, A. Mallik, C.K. Sarkar
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 6, 2007, págs. 953-958
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