Performance comparison of channel engineered deep sub-micrometer pseudo SOI n-MOSFETs.

• Autores: P. Sarkar, A. Mallik, C.K. Sarkar
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 6, 2007, págs. 953-958
• Idioma: inglés
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