Periodo de publicación recogido
|
|
|
P. Magnone, G. Barletta, A. Magrì
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 438-442
Study of gate leakage mechanism in advanced charge-coupled MOSFET (CC-MOSFET) technology
G. Barletta, V.C. Ngwan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 57, 2016, págs. 20-23
G. Barletta, G. Currò
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 810-814
Applications of two critical point results for non-differentiable indefinite functionals
G. Barletta
Rendiconti del Circolo Matematico di Palermo, ISSN 0009-725X, Vol. 55, Nº 3, 2006, págs. 323-352
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados