Lifetime estimation of analog circuits from the electrical characteristics of stressed MOSFETs.

• Autores: J. Martin-Martinez, S. Gerardin, R. Rodríguez, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet, A. Cester, A. Paccagnella, G. Ghidini
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1349-1352
• Idioma: inglés
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