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Protective nanometer films for reliable Cu-Cu connections
Tobias Berthold, Guenther Benstetter, Werner Frammelsberger, Manuel Bogner, Rosana Rodríguez, Montserrat Nafria i Maqueda
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 383-389
Reversible dielectric breakdown in ultrathin Hf based high-k stacks under current-limited stresses.
Albert Crespo Yepes, J. Martin-Martinez, R. Rodriguez, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1024-1028
M. Lanza, M. Porti, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet, G. Ghidini, A. Sebastiani
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1188-1191
Nanometer-scale leakage measurements in high vacuum on de-processed high-k capacitors.
W. Polspoel, W. Vandervorst, L. Aguilera, M. Porti, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1521-1524
Lifetime estimation of analog circuits from the electrical characteristics of stressed MOSFETs.
J. Martin-Martinez, S. Gerardin, R. Rodríguez, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet, A. Cester, A. Paccagnella, G. Ghidini
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1349-1352
M. Lanza, M. Porti, Montserrat Nafria i Maqueda, G. Benstetter, W. Frammelsberger, H. Razinger, E. Lodermeier, G. Jaschke
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1424-1428
E. Amat, Rosana Rodríguez Martínez, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet, J.H. Stathis
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 544-547
Effect of oxide breakdown on RS latches.
R. Fernandez, R. Rodríguez, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 581-584
J. Martin-Martinez, R. Rodríguez, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet, J.H. Stathis
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 665-668
Nanoscale morphology of graphene on different substrates
M. Lanza, Y. Y. Wang, H. Duan, Marc Porti i Pujal, Montserrat Nafria i Maqueda, A. Bayerl, Xavier Aymerich Humet, T. Gao, Z. Liu, Y. Zhang, H. Liang, G. Jing
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices / Héctor García (aut.), Helena Castán Lanaspa (aut.), 2013, ISBN 9781467346665
A. Crespo Yepes, J. Martin Martinez, V. Iglesias, R. Rodriguez, M. Porti, Montserrat Nafria i Maqueda, Xavier Aymerich Humet, M. Lanza
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices / Héctor García (aut.), Helena Castán Lanaspa (aut.), 2013, ISBN 9781467346665
Analisis de la ruptura dielectrica del sio2 para la simulacion de fiabilidad
Montserrat Nafria i Maqueda
Tesis doctoral dirigida por Xavier Aymerich Humet (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (1993).
Tesis doctoral dirigida por Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2019).
Tesis doctoral dirigida por Javier Martín Martínez (codir. tes.), Montserrat Nafria i Maqueda (codir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2017).
TCAD study of interface traps-related variability in ultra-scaled MOSFETs
Tesis doctoral dirigida por Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.), Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2016).
Variabilitat depenent del temps per BTI i portadors calents en MOSFETS ultraescalats
Nuria Ayala Cintas
Tesis doctoral dirigida por Javier Martín Martínez (dir. tes.), Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2013).
Desarrollo de mejoras de la técnica c-afm para la caracterización de dieléctricos en la nanoescala: aplicación en stacks de puerta de dispositivos mos basados en hafnio
Tesis doctoral dirigida por Marc Porti i Pujal (dir. tes.), Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2011).
Tesis doctoral dirigida por Rosana Rodríguez Martínez (dir. tes.), Montserrat Nafria i Maqueda (codir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2009).
Ruptura dielectrica y nbti en dispositivos y circuitos cmos nanoelectrónicos
Tesis doctoral dirigida por Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.), Rosana Rodríguez Martínez (codir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2007).
Caracterització elèctrica de dielèctrics de porta de dispositius MOS amb CAFM: SiO2 i dielèctrics dalta permitivitat
Xavier Blasco Jiménez
Tesis doctoral dirigida por Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2006).
Caracterització a escala nanomètrica de la degradació I: ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant CAFM
Tesis doctoral dirigida por Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.), Xavier Aymerich Humet (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2003).
Tesis doctoral dirigida por Montserrat Nafria i Maqueda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2000).
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