En la tesis se describe la puesta a punto de diferentes microscopios de efecto tunel (stm), especialmente la construccion de un microscopio de gran area de barrido (50 um x 50 um).. La nanometria es un termino introducido para clasificar un campo dentro del stm, el que estudia la morfologia de las superficies con resolucion de nanometros, para solucionar problemas de ingenieria y cientificos. Este campo se puede dividir en cuatro secciones principales: morfologia, pugosidad, nanometrologia, nanolitrografia. Distintos ejemplos de morfologia son discutidos. En la seccion de rugosidad utilizamos la tecnica de los fractales para analizar cuantitativamente el crecimiento de capas finas de au en mica depositadas a distintas temperaturas de substrato, y los resultados son comprobados mediante tecnicas de "rocking curve" de rayos-x. Como ejemplo de nanometrologia podemos utilizar la calibracion de uno de los stm mediante una rejilla de interferometria. Finalmente la punta del stm se amplia utilizando una capa fina libre de niquel para poder medir campos magneticos superficiales, el llamado tunneling stabilized magnetic force microscope. Como ejemplos de este microscopio hemos estudiado los bits magneticos de un disco duro y una aleacion nanocristalina.
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