Periodo de publicación recogido
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Panorama de riesgos por el uso de la tecnología en América Latina
Jhoeen Sneyder Rojas Díaz, John Jairo Yepes Londoño
Trilogía: Ciencia Tecnología Sociedad, ISSN-e 2145-7778, ISSN 2145-4426, Vol. 14, Nº. 26 (Enero-Abril), 2022
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