Periodo de publicación recogido
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Lateral charge spreading and device-to-device coupling in C-doped AlGaN/GaN-on-Si wafers
Manikant Singh, Serge Karboyan, M.J. Uren, Kean Boon Lee, Zaffar Zaidi, P. A. Houston, Martin Kuball
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 95, 2019, págs. 81-86
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