G. Hobler

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  • Numerical analysis of transient temperature distributions during laser soldering

    J. Nicolics, G. Hobler

    Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 13, Nº 4, 1994, págs. 845-860

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  • Efficient simulation of 3-D stress distributions at trench structures caused by thermal mismatch of trench filling and silicon substrate

    R. Slehobr, G. Hobler

    Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 13, Nº 4, 1994, págs. 861-870

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  • The effect of a screening oxide on ion implantation studied by Monte Carlo simulations

    G. Hobler, H. Pötzl

    Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 11, Nº 4, 1992, págs. 403-411

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  • An empirical model for the electronic stopping of boron in silicon

    G. Hobler, H. Pötzl, L. Palmetshofer, R. Schork, J. Lorenz, C. Tian, S. Gara, G. Stingeder

    Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 10, Nº 4, 1991, págs. 323-330

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