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Monitoring small defects on surface microstructures through backscattering measurements
Fernando Moreno Gracia, Francisco González Fernández, José María Saiz Vega, Pablo Albella Echave
Optics letters: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0146-9592, Nº. 11, 2006, págs. 1744-1746
Pablo Albella Echave
Tesis doctoral dirigida por Francisco González Fernández (dir. tes.), Fernando Moreno Gracia (codir. tes.). Universidad de Cantabria (2009).
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