Monitoring small defects on surface microstructures through backscattering measurements

• Autores: Fernando Moreno Gracia, Francisco González Fernández, José María Saiz Vega, Pablo Albella Echave
• Localización: Optics letters: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0146-9592, Nº. 11, 2006, págs. 1744-1746
• Idioma: inglés
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