Vahid Mirkhani
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Artículos de revistas
Proton-induced displacement damage in ZnO thin film transistors: Impact of damage location
Kosala Yapabandara, Vahid Mirkhani, Shiqiang Wang, Min P. Khanal, Sunil Uprety, Tamara Isaacs-Smith, M. C. Hamilton, Minseo Park
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-2, 2018, págs. 262-268
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