Sina Shahbazmohamadi

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• Artículos de revistas

  • A novel crowdsourcing platform for microelectronics counterfeit defect detection

    Bahar Ahmadi, Pouya Tavousi, Joseph Favata, Peiman Shahbeigi-Roodposhti, Rengarajan Pelapur, Sina Shahbazmohamadi

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 48-53

    • Resumen
    

  • Automated detection of counterfeit ICs using machine learning

    Bahar Ahmadi, Bahram Javidi, Sina Shahbazmohamadi

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 371-377

    • Resumen
    

  • Realistic non-destructive testing of integrated circuit bond wiring using 3-D X-ray tomography, reverse engineering, and finite element analysis

    Joseph Favata, Sina Shahbazmohamadi

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 91-100

    • Resumen
    

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