Periodo de publicación recogido
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An efficient EDAC approach for handling multiple bit upsets in memory array
Roger C. Goerl, Paulo Ricardo Cechelero Villa, Letícia B. Poehls, Eduardo Augusto Bezerra, Fabian L. Vargas
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 214-218
A dynamic partial reconfiguration design flow for permanent faults mitigation in FPGAs
Victor Manuel Gonçalves Martins, Paulo Ricardo Cechelero Villa, Rodrigo Travessini, Marcelo Daniel Berejuck, Eduardo Augusto Bezerra
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 50-63
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