InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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Reliability study of fiber-coupled photodiode module for operation at 4K
Eivind Bardalen, Bjørnar Karlsen, Helge Malmbekk, Muhammed Nadeem Akram, Per Ohlckers
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 362-367
Dynamic interference fringes generated by optical interferometer for laser speckle reduction
Zhaomin Tong, Muhammed Nadeem Akram, Xuyuan Chen
SPECKLE 2012: V International Conference on Speckle Metrology : 10-12 september 2012 : Vigo, Spain / Ángel Manuel Fernández Doval (ed. lit.), María Cristina Trillo Yáñez (ed. lit.), José Carlos López Vázquez (ed. lit.), 2012, ISBN 9780819490902
Speckle reduction characterization of high power broad-area edge-emitting diodes lasers
Kim Trinh Tran Thi, Zhaomin Tong, Muhammed Nadeem Akram
SPECKLE 2012: V International Conference on Speckle Metrology : 10-12 september 2012 : Vigo, Spain / Ángel Manuel Fernández Doval (ed. lit.), María Cristina Trillo Yáñez (ed. lit.), José Carlos López Vázquez (ed. lit.), 2012, ISBN 9780819490902
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