Periodo de publicación recogido
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Modeling the impact of well contacts on SEE response with bias-dependent Single-Event compact model
Lili Ding, Wei Chen, Hongxia Guo, Tan Wang, Rongmei Chen, Yinhong Luo, Fengqi Zhang, Xiaoyu Pan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 337-341
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