Periodo de publicación recogido
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Investigation on NBTI-induced dynamic variability in nanoscale CMOS devices: Modeling, experimental evidence, and impact on circuits
Shaofeng Guo, Runsheng Wang, Pengpeng Ren, Changze Liu, Mulong Luo, Xiaobo Jiang, Yangyuan Wang, Ru Huang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 101-111
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