Periodo de publicación recogido
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A comparative study on electrothermal characteristics of nanoscale multiple gate MOSFETs
Qi-Lin Gu, Peng Zhang, Yi Ru, Hao Song, Wen-Sheng Zhao, Wen-Yan Yin
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 362-369
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