Periodo de publicación recogido
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Probabilistic fatigue damage estimation of embedded electronic solder joints under random vibration
Mayssam Jannoun, Younes Aoues, Emmanuel Pagnacco, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El-Hami
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 249-257
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