J. García López

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  • Soft error rate comparison of 6T and 8T SRAM ICs using mono-energetic proton and neutron irradiation sources

    D. Malagón, Sebastià A. Bota, G. Torrens, X. Gili, Antonio Javier Praena Rodríguez, B. Fernández, M. Macías, José Manuel Quesada Molina, Carlos Guerrero Sanchez, M. C. Jiménez, J. García López, J. L. Merino, J. Segura

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 78, 2017, págs. 38-45

    • Resumen
    

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