Periodo de publicación recogido
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Protective nanometer films for reliable Cu-Cu connections
Tobias Berthold, Guenther Benstetter, Werner Frammelsberger, Manuel Bogner, Rosana Rodríguez, Montserrat Nafria i Maqueda
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 383-389
Advanced nanoscale characterization concepts for copper interconnection technologies /
Tobias Berthold
Tesis doctoral dirigida por Günther Benstetter (codir. tes.), Rosana Rodríguez Martínez (codir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2017).
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