Jeffery Lam

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• Artículos de revistas

  • Optimization of an Artificial Neural Network System for the Prediction of Failure Analysis Success

    Lin Zhao, S.H. Goh, Y.H. Chan, B.L. Yeoh, Hao Hu, M.H. Thor, Alan Tan, Jeffery Lam

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 92, 2019, págs. 136-142

    • Resumen
    

  • Application of Scanning Capacitance Microscopy on SOI device with wafer edge low yield pattern

    C.Q. Chen, G.B. Ang, P.T. Ng, Francis Rivai, S.P. Neo, D. Nagalingam, K.H. Yip, Jeffery Lam, Z.H. Mai

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 141-144

    • Resumen
    

  • Embed SRAM IDDOFF fail root cause identification by combination of device analysis and localized circuit analysis

    C.Q. Chen, G.B. Ang, P.T. Ng, Francis Rivai, H.P. Ng, A.C.T. Quah, Ángel Teno, Jeffery Lam, Z.H. Mai

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 261-266

    • Resumen
    

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