Periodo de publicación recogido
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Image reconstruction by solving the inverse problem in ultrasonic transmission tomography system
Tomasz Rymarczyk, Konrad Kania, Michał Gołąbek, Jan Sikora, Michał Maj, Przemysław Adamkiewicz
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 40, Nº 2, 2021, págs. 238-266
Implementation of electrical impedance tomography for analysis of building moisture conditions
Tomasz Rymarczyk, Jan Sikora, Paweł Tchórzewski
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 37, Nº 5, 2018, págs. 1837-1861
Identification of moisture content in brick walls by means of impedance tomography
Jerzy Hola, Z. Matkowski, Krzysztof Schabowicz, Jan Sikora, K. Nita, Stefan Wójtowicz
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 31, Nº 6, 2012, págs. 1774-1792
Object shape virtualization in impedance tomography
Tomasz Grzywacz, Jan Sikora, Stefan Wójtowicz
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 28, Nº Extra 1 (Special Issue: Selected Papers from ISTET 2007), 2009, págs. 221-230
Comparison of direct differentiation and adjoint variable method for electrical impedance imaging
S.Y. Hahn, I.H. Park, H.K. Jung, Jan Sikora
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 12, Nº 1, 1993, págs. 21-34
Some aspects of optimum design of electromagnetic devices
Jan Sikora, W. Kwiatkowski, H. Kraus
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 12, Nº 1, 1993, págs. 35-48
Minimax approach to the optimal shape design of electromagnetic devices
Jan Sikora
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 9, Nº 2, 1990, págs. 67-81
Sensitivity analysis vs the unit distribution method:: its application to inverse problems
Jan Sikora
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 7, Nº 3, 1988, págs. 153-165
Jan Sikora, Jerzy Skoczylas, Jan Sroka, Stanislaw Wincenciak
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 4, Nº 1, 1985, págs. 19-27
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